L’Institut Lavoisier de Versailles est une unité mixte de recherche entre le CNRS et l’Université de Versailles-Saint-Quentin-en-Yvelines (ILV, UMR CNRS-UVSQ 8180). L’équipe Electrochimie et Physicochimie aux Interfaces (EPI) de l’ILV, partenaire de NanoMesureFrance, mène des activités de recherche fondamentale et applicative s’appuyant sur l’électrochimie et les spectroscopies électroniques pour étudier en profondeur la physico-chimie des surfaces et interfaces de matériaux et dispositifs trouvant des applications dans des domaines variés tels que la micro ou l’opto-électronique, les semi-conducteurs, le photovoltaïque, l’énergie, la corrosion, la pharmacie ou le patrimoine culturel. Un centre d’analyse de surface (CEFS2), regroupant des équipements de laboratoire de pointe pour les spectroscopies électroniques, est rattaché au groupe de recherche EPI.

Grâce à leur polyvalence, les spectroscopies électroniques peuvent être utilisées dans de nombreux domaines d’application. Ce webinaire propose de présenter les capacités de la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), de la spectroscopie électronique Auger (AES) / de la microscopie Auger à balayage (SAM), de la microscopie électronique à balayage (SEM) et de la spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS), utilisées séparément et de manière complémentaire. En effet, l’utilisation d’une approche multi-techniques permet d’obtenir une description complète et fiable de la microstructure, de la morphologie et de la chimie. L’accès à la composition élémentaire de la surface, aux environnements chimiques ou à des informations plus physiques telles que le fonctionnement ou la densité d’états permet une compréhension globale des problèmes que nous devons résoudre. Ces techniques couvrent également des résolutions spatiales allant du millimètre à la dizaine de nanomètres, ce qui permet d’obtenir des informations à différentes échelles (latéralement ou en profondeur). L’importance de la préparation des échantillons et la prise en compte des artefacts de mesure seront également abordées en termes de fiabilité des données et de cohérence des séquences d’analyse.

Assistez à ce webinaire afin d’en savoir plus sur ces technologies d’analyse de pointe et sur les capacités de ce nouveau membre de NanoMesureFrance.

Date : Vendredi 21 mars 2025 de 11 :00 à 11 :45

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