Le processus d’identification des nanomatériaux repose sur la détermination de la distribution de tailles en nombre des particules constitutives formant la substance. Les méthodes de microscopie électronique font à ce jour référence mais peuvent se révéler couteuses, tout particulièrement lorsque les échantillons s’avèrent polydispersés ou se présentent sous la forme d’agrégats.

Au-delà de l’harmonisation des protocoles de préparation d’échantillon ou d’obtention d’images disposant d’une qualité suffisante pour identifier sans ambiguïté les particules constitutives, l’automatisation du processus d’analyse des images est l’une des voies privilégiées pour réduire les coûts inhérents à cette identification.

Pour progresser sur ce sujet, NanoMesureFrance organise une comparaison inter-laboratoires d’outils d’analyse d’images de microscopie électronique à balayage (MEB) afin de dresser un état des lieux des performances des technologies disponibles, en termes de détermination de la distribution de tailles en nombre de particules constitutives.

Les inscriptions, gratuites pour les adhérents de NanoMesureFrance, sont ouvertes en suivant ce lien

Inscriptions ouvertes du 15 avril au 31 mai 2025