Webinaire NMF du 17 avril 2026
Découvrez les technologies d’analyse reposant sur la microscopie (XRM) et la tomographie par rayons X (CT) Le prochain webinaire de NanoMesureFrance sera animé par Ian BELDING de la société ZEISS (Royaume-Uni). Cette technologie permet d’analyser la structure de nanomatériaux sans les altérer avec une résolution allant jusqu’à 50 nm, comparable aux synchrotrons, tout en préservant l’intégrité de vos échantillons. 💡 Au programme :✅ Imagerie 3D non destructive : Obtenez de...











