Webinaire NMF – 05/07/24
La corrélation directe de la microscopie électronique à balayage (MEB) et de la microscopie à force atomique (AFM) est une approche analytique puissante pour l’acquisition de données complémentaires sur les micro- et nanostructures. Cette combinaison offre de nouvelles perspectives pour surmonter certaines difficultés dans la mesure des nanomatériaux tels que les nanoplaquettes, les composites ou les mélanges. Notre prochain webinaire, prévu le vendredi 5 juillet de 11:00 à 11:4...






