Découvrez les technologies d’analyse reposant sur la microscopie (XRM) et la tomographie par rayons X (CT)

Le prochain webinaire de NanoMesureFrance sera animé par Ian BELDING de la société ZEISS (Royaume-Uni). Cette technologie permet d’analyser la structure de nanomatériaux sans les altérer avec une résolution allant jusqu’à 50 nm, comparable aux synchrotrons, tout en préservant l’intégrité de vos échantillons.

💡 Au programme :
✅ Imagerie 3D non destructive : Obtenez des données volumétriques précises sur la taille, l’orientation et la distribution de vos nanoparticules.
✅ Analyse statistique avancée : Alimentez vos modèles numériques avec des données fiables et représentatives.
✅ Applications variées : Batteries Li-ion, matériaux poreux, nanoparticules dans les tissus biologiques, et bien plus.

✅ Intégration de l’intelligence artificielle : Découvrez comment ZEISS utilise l’IA pour optimiser l’analyse et la prédiction.

🗓 17 avril 2026
🕚 11h00 – 11h45 (CEST)

📄Résumé disponible ici 

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