NanoMesureFrance a organisé un essai interlaboratoire visant à évaluer les performances des logiciels d’analyse d’images de microscopie électronique (ME) pour la caractérisation des nanomatériaux. Cette initiative répond au besoin croissant d’outils fiables et harmonisés, capables de déterminer les distributions granulométriques en nombre à partir d’images MEB dans un contexte réglementaire, notamment pour l’identification des nanomatériaux.

Cette évaluation comparative porte sur l’extraction de descripteurs statistiques de la taille des particules, notamment D10, D50, D90, l’écart-type et la proportion de particules inférieures à 100 nm. Les participants analysent des ensembles de données d’images MEB identiques fournis par le Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE), ce qui élimine toute variabilité liée à la préparation des échantillons et à l’acquisition des images.

Cinq échantillons de complexité croissante ont été sélectionnés pour évaluer la robustesse des logiciels dans des conditions d’analyse réalistes : (1) des particules sphériques monodispersées de SiO₂, (2) des particules de TiO₂ bien dispersées dont la taille médiane est proche de 100 nm, (3) des agrégats/agglomérats de TiO₂ mal dispersés, (4) des particules de SiO₂ hautement polydispersées, et (5) des particules complexes de bauxite présentant une forte polydispersité granulométrique.

Au total, 17 participants ont pris part à cette comparaison. L’étude a mis en évidence une bonne concordance générale pour les échantillons simples, tandis qu’une variabilité inter-participants significative est apparue pour les matériaux complexes et fortement polydispersés, en particulier pour l’échantillon de bauxite. Dans plusieurs cas, la détermination du fait que la taille médiane des particules était supérieure ou inférieure au seuil réglementaire de 100 nm dépendait fortement de la méthode d’analyse utilisée.

Ces résultats soulignent l’importance de règles de comptage harmoniséesof procédures d’analyse d’images validées et d’ensembles de données de référence pour la qualification des outils d’analyse par microscopie électronique automatisés ou assistés par IA. Cette comparaison interlaboratoire établit également un cadre méthodologique pour de futurs exercices d’évaluation comparative et contribue à l’élaboration de bonnes pratiques en matière de caractérisation des nanomatériaux.