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Ce webinaire présente les possibilités d’analyses de la chimie de surface de nanoparticules par les méthodes AFM, EDX, XPS et ToF-SIMS

La plateforme logicielle, NanometrologIA, a été développée par le LNE et propose des outils de segmentation/classification pour l’analyse automatisée d’échantillons particulaires. Elle sera présentée lors de ce webinaire, ses capacités seront démontrées, ainsi que les perspectives de développement futur.